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Enlighten Your Ideas!
传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。如：
光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 提供了完整解决方案~命名为 PD-QE。
我们将根据您的需求提供定制解决方案，并将传感技术集成到您的产品、产品应用和 OEM 解决方案中。告诉我们更多，我们会启发您的想法。
PD-QE 系统是光焱科技在过去十年的小光斑 (power mode) 基础上，进化开发完成。
Enlitech 的专家团队拥有丰富的实验室经验和技术知识，能够在线上或现场指导客户进行精密测试。例如，通过对噪声电流频率图的详细分析，Enlitech 帮助客户识别潜在的测试误差，优化测试参数，从而提升测试的精确度与再现性。
Enlitech 深知，在光电领域中，精确测试对产品开发和质量控制至关重要。客户在面对如噪声电流频率、量子效率 (EQE)、探测度 (D*) 及噪声等效功率 (NEP)
等测试时，常常因仪器调校复杂、数据不稳定而感到困惑。针对这些痛点，Enlitech 提供了全面的解决方案。
EQE 和 D* 等指标直接影响光电探测器的灵敏度和性能，这在半导体、通讯及航空航天等高科技领域尤为重要。准确的测试数据不仅能够帮助客户提升产品质量，还能降低产品开发周期，节省成本。
Enlitech
We Make Sensors Better.
PD-QE 可直接针对器进进行频率噪声的测量与作图。
PD-QE 可以进行 EQE 光谱测试。除了标准的 300nm ~ 1100nm 波段，PD-QE 可扩展到 1800nm。图中显示不同波长响应器件，在 PD-QE 系统下，测的 EQE 量子效率光谱。
PD-QE 已整合 Keithley 与 Keysight 出产的多种 SMU，进行多种的 IV 曲线扫描。用户无需另外寻找或是自行整合 IV 曲线测试。图中显示 PD-QE 测试不同样品的 IV 曲线，并进行多图显示。
PD-QE 凭借先进数字讯号采集与处理技术，直接可测试各种探测器在不同频率下的噪声电流图。用户无需在额外购买、整合频谱分析仪进行测种测试！并且软件可以进行多种频段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是针对新世代 PD 测试的完整解决方案。