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本系统针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。利用一单色 (单波长) 的光源，对其进行连续脉冲或是周期性的光强调制后，照射到光电器件产生光生电流或是光生电压讯号，并对此进行频域或时域的测量与分析，得到光电器件光电转换过程的重要参数。包含频率响应、爬升/下降时间、LDR线型动态范围、瞬态光电压 (TPV) 、瞬态光电流 (TPC) 等光电转换能力评价参数。用以了解光电器件内部结构与载流子动力学、内部材料组成、器件结构与载流子动力学之关系。作为光电器件特性评价与性能改进的参考。
我们将根据您的需求提供定制解决方案，并将传感技术集成到您的产品、产品应用和 OEM 解决方案中。告诉我们更多，我们会启发您的想法。
Enlitech 的专家团队拥有丰富的实验室经验和技术知识，能够在线上或现场指导客户进行精密测试。例如，通过对噪声电流频率图的详细分析，Enlitech 帮助客户识别潜在的测试误差，优化测试参数，从而提升测试的精确度与再现性。
Enlitech 深知，在光电领域中，精确测试对产品开发和质量控制至关重要。客户在面对如噪声电流频率、量子效率 (EQE)、探测度 (D*) 及噪声等效功率 (NEP)
等测试时，常常因仪器调校复杂、数据不稳定而感到困惑。针对这些痛点，Enlitech 提供了全面的解决方案。
EQE 和 D* 等指标直接影响光电探测器的灵敏度和性能，这在半导体、通讯及航空航天等高科技领域尤为重要。准确的测试数据不仅能够帮助客户提升产品质量，还能降低产品开发周期，节省成本。
Enlitech
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| Model | Wavelength |
|---|---|
| RS-405 | 405 nm |
| RS-940 | 940 nm |
| RS-520 | 520 nm |
2021 年 Advanced Materials 期刊报导了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶 Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用 PD-RS 系统对单晶光电器件进行多种的光电转换响应行为进行测量与分析。其中包含：
PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 (爬升/下降时间 < 5ns)，在恒定光强脉冲光条件下，可以对器件进行光电流时间响应测试，并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析。以了解光电器件較快的时间响应极限特征。
PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。在软件自动化的测试光电流的变化，绘制出待测器件的线性动态范围响应图 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。由光电流与光强的测试可以得到响应度 (mA/W) 变化，是常用于表征光电器件优劣的参数。
PD-RS 具备高速调制能力的激光器。系统可自动调变输出光束的调制频率，并进行光电流的侦测，同时绘制频率响应图并分析 -3 dB 频率特性。-3 dB 点指的是当光源调制频率上升，器件响应跟不上光源的开关变化，出现响应光电流随之下降的情况，达到 -3 dB 的强度时，作为标记性能的频率。
TPC/TPV 是一种常用于薄膜光电器件的测量技术，可以研究器件中的载流子传输与复合的物理行为。 PD-RS 的光源具备高速的爬升与下降时间 (< 5 ns)，可以进行瞬态光电流 (TPC) 与瞬态光电压 (TPV) 的测试。
